冷(lěng)熱衝(chōng)擊試驗(yàn)箱(xiāng)（也叫溫度(dù)衝(chōng)擊試驗箱）是用(yòng)來(lái)測試材料(liào)結(jié)構或復合(hé)材料，在瞬(shùn)間(jiān)下經(jīng)*溫及(jí)極低溫的(dí)連(lián)續環境下所能忍受的程度(dù), 藉以(yǐ)在短(duǎn)時(shí)間內(nèi) 試驗其因(yīn)熱(rè)脹冷縮所(suǒ)引(yǐn)起的(dí)化學變化(huà)或物理傷害(hài)，確(què)認(rèn)產品的品(pǐn)質.適用的對(duì)象(xiàng)包括(kuò)電子電器零組(zǔ)件(jiàn)，自動化(huà)零部件(jiàn)，通訊(xùn)組(zǔ)件，汽車配件(jiàn)，金(jīn)屬，化(huà)學材(cái)料，塑(sù)膠(jiāo)等行業(yè)及(jí)國防(fáng)工業(yè)，航(háng)天，兵(bīng)工業，BGA，PCB基扳，電子(zǐ)芯片(piàn)IC，半導體陶磁(cí)及高分子材料之物理牲變化。
冷(lěng)熱衝擊試(shì)驗箱(xiāng)升，降溫速(sù)率的(dí)正確測試(shì)方(fāng)法(fǎ)
1，在試驗(yàn)箱溫度(dù)可調範(fàn)圍(wéi)內(nèi)，選(xuǎn)取低(dī)標(biāo)稱溫度為(wéi)低規定溫度(dù)，高標稱(chēng)溫(wēn)度為(wéi)高(gāo)規(guī)定溫度。
2，開啟(qǐ)冷源，使試(shì)驗(yàn)箱(xiāng)在高規定(dìng)溫度下，穩(wěn)定(dìng)2h，再調至(zhì)低(dī)規定(dìng)溫度，檢測試驗(yàn)箱溫度從(cóng)溫(wēn)度範(fàn)圍的90%降(jiàng)到(dào)10%的(dí)時間。
3，在(zài)升溫或降溫過(guò)程(chéng)每(měi)1min記(jì)錄溫度(dù)值(zhí)1次(cì)。
試(shì)驗結(jié)果的(dí)計算與評定
將測得的(dí)溫(wēn)度(dù)值按測(cè)試儀表的修正值修正。
按式(shì)（1）計算(suàn)升(shēng)，降溫平(píng)均(jūn)速率：V ?T=(0.8×（T_2-T_1）)/t  ………………………………（1）
式中(zhōng)：
 V ?T——升(shēng)，降溫(wēn)平均(jūn)速(sù)率(shuài)，單(dān)位為攝氏度每分(fēn)鐘(zhōng)（℃/min）；
 T_1——低規(guī)定溫(wēn)度，單(dān)位為攝氏度（℃）；
 T_2——高規定溫(wēn)度，單位(wèi)為攝(shè)氏度（℃）；
  t——從溫度範圍(wéi)的10%升到(dào)90%的(dí)升溫時間(jiān)/從溫(wēn)度(dù)範(fàn)圍(wéi)的90%降(jiàng)到(dào)10%的降(jiàng)溫時(shí)間，單(dān)位(wèi)為(wéi)分(fēn)鐘（min）。
溫度(dù)按(àn)規定溫度速(sù)率變(biàn)化(huà)的試(shì)驗箱(xiāng)，在(zài)T_1 到(dào)T_2的(dí)溫(wēn)度範圍(wéi)的10%到(dào)90%的(dí)區(qū)間內，每5min的(dí)溫度(dù)變化率按(àn)式（2）計(jì)算：V_T=|?T|/5   ………………………………（2）
式中：
 V_T——溫度(dù)變化速率，單(dān)位為(wéi)攝氏度每分(fēn)鐘(zhōng)（℃/min）；
 ?T——每5min的(dí)溫(wēn)度(dù)變(biàn)化值，單(dān)位為攝氏(shì)度(dù)（℃）。
其結果(guǒ)應符合試(shì)驗(yàn)箱性能項目及(jí)指(zhǐ)標的規(guī)定。